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第三代
電晶體測(cè)試家族
Third generation semiconductor testing family
分類(lèi)
全自動(dòng)IC引線框架打標(biāo)系統(tǒng) QH-APV100SL

所有類(lèi)型QFN、DFN料盒



懸浮電源

多Site並行

多通道高精度

支援多種擴(kuò)展

型號(hào) QH-APV100SL
產(chǎn)品優(yōu)勢(shì) 自動(dòng)切換料盒
自動(dòng)切換軌道寬度
入料vision防反
可搭配不同類(lèi)型雷射打標(biāo)機(jī)
印字檢測(cè)，二維碼讀取