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第三代
電晶體測(cè)試家族
Third generation semiconductor testing family
首頁(yè) 產(chǎn)品中心 電晶體測(cè)試 分立器件高速測(cè)試系統(tǒng)
分類
QT-6000 分立元件高速測(cè)試系統(tǒng)

QT-6000分立器件高速測(cè)試機(jī)，適用於測(cè)試中小功率二極體、三極管、MOS等產(chǎn)品，可拓展內(nèi)寘電容（DC+CAP）、EAS、Vc、pA模塊，也可擴(kuò)展外掛LCR（超高精度電容測(cè)試）、Scanbox等，應(yīng)用於晶圓、FT量產(chǎn)或?qū)嶒?yàn)室測(cè)試。



懸浮電源

四象限電路

高速測(cè)試

支援多種擴(kuò)展

型號(hào) QT-6000
產(chǎn)品優(yōu)勢(shì) ? QT-6000分立器件高速測(cè)試機(jī)，具備測(cè)試精度高、測(cè)試速度快、穩(wěn)定性好、可靠性高、抗干擾能力強(qiáng)等效能優(yōu)點(diǎn)
? 採(cǎi)用四象限電路，可以很好的保護(hù)被測(cè)元件。
? 採(cǎi)用懸浮電源和全對(duì)稱結(jié)構(gòu)。
? 高速測(cè)試滿足UPH56K以上的分選機(jī)。
主要特點(diǎn) ? 高速測(cè)試， UPH>40K
? 可一拖二實(shí)現(xiàn)100% FT+QA並行測(cè)試
? 先進(jìn)的電容高速測(cè)試方案，實(shí)現(xiàn)CAP+DC同工位測(cè)試
? 內(nèi)寘UIS測(cè)試方案，實(shí)現(xiàn)DC+UIS同工位測(cè)試
? LCR精準(zhǔn)電容測(cè)試，最小測(cè)試電容值100fF
? 電壓/電流（可選）：1200V/600V，30A/10A/3A






Testing standards檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)


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