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第三代
電晶體測(cè)試家族
Third generation semiconductor testing family
首頁(yè) 產(chǎn)品中心 電晶體測(cè)試 功率器件測(cè)試系統(tǒng)
分類
QT-4100 綜合測(cè)試系統(tǒng)

適用於SiC /Si MOSFET、IGBT、二極體、三極管、可控矽、固態(tài)放電管、三端穩(wěn)壓、光耦等電性參數(shù)測(cè)試。 提供整套成熟測(cè)試方案，全面支持DC、EAS、RGCG、熱阻、SW開關(guān)特性、短路、TRR、QG等動(dòng)靜態(tài)參數(shù)測(cè)試。 可實(shí)現(xiàn)多工站測(cè)試數(shù)據(jù)合併。



限壓限流

高精度Rdon測(cè)試

模組化功能

多站資料合併

型號(hào) QT-4100 綜合測(cè)試系統(tǒng)
產(chǎn)品優(yōu)勢(shì) 一鍵校準(zhǔn)，開批自檢防呆
Low RDON最低測(cè)試0.2mR
限壓限流保護(hù)
填表式制程
支持?jǐn)U展EAS，LCR，熱阻， SW，TRR，QG
支持PAT功能
具備SECS/GEM標(biāo)準(zhǔn)介面
主要特點(diǎn) 滿足SiC Mos/IGBT全參數(shù)測(cè)試流程，支持100%線上QA
DC規(guī)格：2kV 200A，擴(kuò)展8kV 2kA
AC規(guī)格：1500V 600A短路3000A雜散Ls<30nH，保護(hù)<300ns
國(guó)內(nèi)首家實(shí)現(xiàn)多工位合併數(shù)據(jù)，同時(shí)支持測(cè)試工位合併
行業(yè)內(nèi)公認(rèn)的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試解決方案