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第三代
電晶體測(cè)試家族
Third generation semiconductor testing family
首頁(yè) 產(chǎn)品中心 電晶體測(cè)試 功率器件測(cè)試系統(tǒng)
分類
QT-3101 UIL 雪崩測(cè)試

QT-3101 UIL 雪崩測(cè)試適用於測(cè)試MOSFET、IGBT、二極體的雪崩參數(shù)



支援雙DIE

快速充電

失效波形保存

鉗壓功能

型號(hào) QT-3101 UIL
產(chǎn)品優(yōu)勢(shì) 支援VDD ON(E=1/2L*I*I*BVDSS/(BVDSS-VDD))或VDD OFF(E=1/2*L*I*I)測(cè)試
內(nèi)建示波器
極限能量掃描測(cè)試
可設(shè)定單脈衝、多重脈衝或雙MOSFET測(cè)試
可與QT-4100B共用一臺(tái)電腦，實(shí)現(xiàn)測(cè)試程式與資料統(tǒng)一管理
主要特點(diǎn) ? 支持RPF
? 晶圓測(cè)試爆珠保護(hù)
? 顯示實(shí)際測(cè)量的能量（mJ）
? 支持PVDROOP、PVCOLLAPSE測(cè)試
? QT-UILM模組：ID電流輸出能力提升至400A，BVDSS電壓量測(cè)5KV