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第三代
電晶體測試家族
Third generation semiconductor testing family
首頁 產(chǎn)品中心 電晶體測試 IC測試系統(tǒng)
分類
QT-8100 數(shù)?；旌螴C測試系統(tǒng) (Cable-Mount)

適用於常規(guī)DC、AC參數(shù)測試及混合類及模擬類IC元件功能性測試。 主要測試：電源管理類，數(shù)位消費類，馬達驅(qū)動類，音頻放大器、運算等。



懸浮電源

多Site並行

多通道高精度

支援多種擴展

型號 QT-8100
產(chǎn)品優(yōu)勢

數(shù)模混合IC測試系統(tǒng)適用於常規(guī)DC、AC參數(shù)測試及混合類及模擬類IC元件功能性測試。 主要測試：電源管理類，數(shù)位消費類，馬達驅(qū)動類，音頻放大器、運算等

主要特點 ? 浮動源，數(shù)位頻率25.6MHz，向量深度64M
? 18 bit高精密採樣
? 600+數(shù)?；旌蠝y試通道能力，多路1000V/20A高壓大電流
? 多通道高精度時間量測單元，支持ns級別時間量測
? 支持RF模組擴展
? 高效精準的通信配寘，測試效率再陞級