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第三代
半導體測試家族
Third generation semiconductor testing family
首頁 產品中心 電晶體測試 功率器件測試系統(tǒng)
分類
 
QT-3104 QG 閘極電荷測試

QT-3104 QG滿足SiC裝置微小QG值測試



支援雙DIE

過載欠壓保護

高精度測試

支援擴充

型號 QT-3104 QG
產品優(yōu)勢 滿足SiC裝置微小QG值測試
主要特點 ? 測試能力:200A/150V 150A/1000V




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